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Spansion宣布开始向其战略型OEM客户提供针对手机的65nm MirrorBit® Eclipse™闪存解决方案样片。通过将标准NOR闪存所具有的出色随机存取性能与MirrorBit Eclipse架构所拥有的业内领先的编程能力相结合，Spansion基于MirrorBit Eclipse架构的MCP产品将为使用中高端手机平台的用户带来非同凡响的使用体验。公司计划于2008年下半年在其位于日本的全新旗舰级300mm SP1晶圆厂量产该产品。
随着手机和多媒体便携设备中数字内容（如图片、音乐和视频）的日益增多，基于MirrorBit Eclipse架构的闪存解决方案能够提升用户体验，例如加快应用程序载入速度、缩短启动时间以及提高图像存储和读取速度等。这些解决方案基于每单元2比特的MirrorBit技术，能够以传统NOR所具有的极高速度执行代码，并可实现极快的多媒体数据传输速率。
Web-Feet 研究公司的分析师Alan Niebel表示：“兼容现有平台有利于设备制造商缩短新型手机的上市时间。MirrorBit Eclipse MCP等解决方案为手机OEM厂商降低成本提供了更大的灵活度，同时提升了编程速度并有助于他们更快地生产出创新的多功能手机。”
此外，通过采用本地执行（XIP，eXecute-In-Place)接口，不但可以直接读取非易失性存储器中的代码和数据，还可减少用于代码映射的系统DRAM面积，从而能帮助手机OEM厂商节省20%甚至更多的存储子系统物料成本，同时在设计中获得更大的灵活性。
Spansion无线解决方案事业部执行副总裁Ahmed Nawaz表示：“65nm MirrorBit Eclipse系列产品的推出成为Spansion一个重要的技术里程碑，也是公司位于日本的SP1旗舰级300mm晶圆厂生产的首批产品之一。通过在同一个单裸片上实现代码执行和数据存储，MirrorBit Eclipse进一步加强了我们的产品供应，在使手机OEM厂商在大幅降低成本的同时，又能显著提升性能，包括实现高速编程、低功率、高容量和快速的应用程序切换等功能。”
另外，MirrorBit Eclipse解决方案还集成了一个可编程微控制器，取代了以往用于闪存的传统状态机（state machine），并且支持内置自测(BIST，built-in seft test)。旨在减少测试相关成本而设计的内置自测可以缩短产品的测试周期并降低测试设置的复杂程度，从而直接减少对自动测试设备（ATE，automated test equipment）的需求。
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