|
|||||||||
 |
|
||||||||
|
|
||||||||||||||
| . 网站首页 . 新闻 . 新品 . 方案 . 专访 . 活动 . DSP . EDA . 评测室 . 技术文库 . 会员区 . 商城 . 服务导航 . 邮购 . 资源 . | ||
 |
||
|
||
|
|||||
| AVR单片机内部EEPROM寿命测试结果报告 | |||||
作者：61IC录入 文章来源：本站原创 点击数： 更新时间：2006-4-7  |
|||||
|
测试单元数量：32BYTE（0X00~0X1F） 测试数据：0X05，0X0A（交替写入） 测试方式：连续 测试芯片：AT90S8535-8PI 晶振频率：8MHz+32768Hz 时间显示位数：6位（00：00：00） 寿命显示数位：6位（99。9999万次）+6个小数点作百万位（0B--111111百万次） 测试最小寿命：210。5921万次（耗时：01：12：26） 测试最大寿命：337。2073万次（耗时：01：55：59） 损坏表现为：读出不等于写入，但掉电后数据不变 表（列举）： 写入：0X05-0X0A-0X05-0X0A-0X05-0X0A-0X05-0X0A-----0X0A（低半字节损坏的单元0X19） 读出：0X15-0X1A-0X25-0X2A-0X45-0X4A-0X85-0X8A-----0X08 有个比较奇怪的结果：就是损坏的以高半字节为多，低半字节只有一个音元损坏。 |
|||||
| 欢迎点击进入：TI德州中文网 (国内唯一针对TI应用的中文技术网站) 文章录入：admin 责任编辑：admin | |||||
| 【发表评论】【加入收藏】【告诉好友】【打印此文】【关闭窗口】 | |||||
| 最新热点 | 最新推荐 | 相关文章 | ||
| 没有相关文章 |
| 网友评论：（只显示最新10条。评论内容只代表网友观点，与本站立场无关！） |
| | 设为首页 | 加入收藏 | 联系站长 | 友情链接 | 版权申明 | 网站公告 | 管理登录 | | |||
|
