美国LogicVision Inc.与加拿大DA-Test宣布了一项高速串行/解串器(serdes)电路的低成本高精确度测试合作计划。

双方表示，采用LogicVision的ETSerdes嵌入测试知识产权(IP)，DA-Test及LogicVision在低成本自动化测试设备(ATE)上测试了3.2Gbps Serdes半导体器件，不必使用成本高昂的高速Serdes仪器。LogicVision营销副总裁Farhad Hayat表示：“LogicVision开发的ETSerdes IP解决方案实现了在低成本ATE上测试任何速度的Serdes半导体器件。”

在现成的FPGA上使用ETSerdes IP，DA-Test实现了在线I/O测试，测量出波形、抖动和抖动容差参数，及生产测试时间。DA-Test还能采用ETSerdes的补偿电压输入和脉宽测量技术测量100ps范围内的上升和下降时间。

3-5-ps RMS范围内的高频抖动采用ETSerdes的黄金PLL可对比方法在芯片的接收器内被测量出来，所有测试均以亚皮秒精确度和可重复性测量。所有测试模式均通过ETSerdes应用软件自动生成。