【E1562】金属探测器课程设计资料

项目编号：E1562

文件大小：2.48M

源码说明：带中文注释

开发环境：C编译器

简要概述：

金属探测器是专门用来探测金属的仪器。广泛应用于工业生产、安检、娱乐等领域。这里我们设计的是一个基于单片机的手持金属探测器。它可以检测到人随身携带的金属物品，如小刀、钢笔甚至可以检测到硬币。可随身携带，使用方便。

金属探测是根据电磁感应原理制成的，将一金属置于变化的磁场当中时，根据电磁感应原理就会在金属内部产生涡流，涡流产生的磁场反过来又影响原磁场，这种变化可以转换为电压幅值的变化，供相关电路进行检测。它也可以表现为振荡电路频率的变化，用检测频率的办法进行检测，这里使用的是前者，振荡部分由555振荡器振荡电路组成，产生的方波信号通过线圈电路，产生相应的交变磁场。无金属存在时此磁场为相对稳定的交变磁场，当有金属物体存在时，将会在金属中产生涡流效应，涡流又会产生与原磁场方向相反的磁场，并对总磁场有影响。通过将测得的实际磁场与预先测得并设定的存在金属时的磁场进行比较，就可实现对金属的探测。

为了实现上述功能，本次金属探测器分为控制模块、震荡模块、检测放大模块、峰值检波模块、A/D转换模块以及报警模块，并对各模块进行了专业仿真与实验，效果很好。

此外,文中还对影响金属探测器的灵敏度与稳定性的因素进行了探讨,认为仪器的工作频率、检测线圈的尺寸及匝数等是影响灵敏度的主要因素;而应用现场的环境温度、湿度及线圈的制作工艺和供电电源的稳定程度是仪器稳定性的影响因素。

设计报告：

目录│文件列表:

 └ 金属探测器课程设计

    │ Previous Backup of Metal Detector.Sch

    │ 手持式金属探测器.SCHDOC

    │ 测控1204-张晨-课程设计论文.docx

    └ 测试

       ├ 各单元电路仿真实验

       │  ├ 仿真程序

       │  │  │ 系统仿真

       │  │  │ 系统仿真.c

       │  │  │ 系统仿真.hex

       │  │  │ 系统仿真.lnp

       │  │  │ 系统仿真.LST

       │  │  │ 系统仿真.M51

       │  │  │ 系统仿真.OBJ

       │  │  │ 系统仿真.Opt

       │  │  │ 系统仿真.plg

       │  │  │ 系统仿真.Uv2

       │  │  │ 系统仿真_Opt.Bak

       │  │  └ 系统仿真_Uv2.Bak

       │  ├ 单片机+采集仿真

       │  │  │ Last Loaded 单片机+采集放大+555震荡.DBK

       │  │  │ Last Loaded 单片机+采集放大.DBK

       │  │  │ Last Loaded 单片机.DBK

       │  │  │ 单片机+采集放大+555震荡.DSN

       │  │  │ 单片机+采集放大+555震荡.PWI

       │  │  │ 单片机+采集放大.DSN

       │  │  │ 单片机+采集放大.PWI

       │  │  │ 单片机.DSN

       │  │  └ 单片机.PWI

       │  ├ 可用电路备份

       │  │  │ Last Loaded 单片机+采集放大+555震荡.DBK

       │  │  │ Last Loaded 峰值检波(亲测可用).DBK

       │  │  │ Last Loaded 直流粗糙二级放大（误差10%）.DBK

       │  │  │ 交流放大+检波（基本可用）.DSN

       │  │  │ 交流放大+检波（基本可用）.PWI

       │  │  │ 单片机+采集放大+555震荡.DSN

       │  │  │ 单片机+采集放大+555震荡.PWI

       │  │  │ 峰值检波(亲测可用).DSN

       │  │  │ 峰值检波(亲测可用).PWI

       │  │  │ 直流粗糙二级放大（误差10%）.DSN

       │  │  │ 直流粗糙二级放大（误差10%）.PWI

       │  │  └ 仿真程序

       │  │     │ 系统仿真

       │  │     │ 系统仿真.c

       │  │     │ 系统仿真.hex

       │  │     │ 系统仿真.lnp

       │  │     │ 系统仿真.LST

       │  │     │ 系统仿真.M51

       │  │     │ 系统仿真.OBJ

       │  │     │ 系统仿真.Opt

       │  │     │ 系统仿真.plg

       │  │     │ 系统仿真.Uv2

       │  │     │ 系统仿真_Opt.Bak

       │  │     └ 系统仿真_Uv2.Bak

       │  ├ 检测+交流放大+峰值检波

       │  │  │ Last Loaded 峰值检波(有反应，但效果不明显).DBK

       │  │  │ 峰值检波(有反应，但效果不明显).DSN

       │  │  │ 峰值检波(有反应，但效果不明显).PWI

       │  │  │ 检测+交流放大+峰值检波(失败).DSN

       │  │  └ 检测+交流放大+峰值检波(失败).PWI

       │  ├ 线圈电路仿真

       │  │  │ Last Loaded 线圈部分.DBK

       │  │  │ 线圈部分.DSN

       │  │  └ 线圈部分.PWI

       │  └ 采集放大电路

       │     │ Last Loaded 小信号单级放大（20倍+0.04V）.DBK

       │     │ Last Loaded 粗糙二级放大（误差10%）.DBK

       │     │ 可调双极（x10,x5）放大.DSN

       │     │ 可调双极（x10,x5）放大.PWI

       │     │ 小信号单级放大（20倍+0.04V）.DSN

       │     │ 小信号单级放大（20倍+0.04V）.PWI

       │     │ 粗糙二级放大（误差10%）.PWI

       │     │ 粗糙二级放大（误差10%）（优先采用）.DSN

       │     └ 粗糙二级放大（误差10%）（优先采用）.PWI

       ├ 完善电路实验

       │  │ Last Loaded 双极放大尝试1.DBK

       │  │ Last Loaded 毫伏级交流放大.DBK

       │  │ 双极放大尝试1.DSN

       │  │ 双极放大尝试1.PWI

       │  │ 双极放大，可放大范围广，但是方法倍数不足，100mV放大至2V左右，且底部完全失真.DSN

       │  │ 双极放大，可放大范围广，但是方法倍数不足，100mV放大至2V左右，且底部完全失真.PWI

       │  │ 可调双极（x10,x5）放大.DSN

       │  │ 可调双极（x10,x5）放大.PWI

       │  │ 毫伏级交流放大.DSN

       │  │ 毫伏级交流放大.PWI

       │  │ 毫伏级交流放大10倍.DSN

       │  └ 毫伏级交流放大10倍.PWI

       └ 源程序电路失败

          │ Last Loaded 测试仿真.DBK

          │ 测试

          │ 测试.c

          │ 测试.hex

          │ 测试.lnp

          │ 测试.LST

          │ 测试.M51

          │ 测试.OBJ

          │ 测试.plg

          │ 测试.uvopt

          │ 测试.uvproj

          │ 测试_uvopt.bak

          │ 测试_uvproj.bak

          │ 测试仿真.DSN

          └ 测试仿真.PWI